G01100 - SEMI G11 - Practice for RAM Follower Gel Time and Spiral Flow of Thermal Setting Molding Compounds Revision:SEMI G11-88 - Superseded Current edition approved by the

Current edition approved by the North American Regional Standards Committee on August 29

時刻同期スタンダードは，時刻依存データを収集，ストア，配信，処理するファクトリコンポーネントに適用する。ファクトリコンポーネントには，デバイスの製造，装置の維持，プロセスリソースの提供，ファクトリの状態管理，プロセスのコントロールなどに利用するアプリケーションが挙げられる。特に，製造に利用する装置がある。

and crystallographic orientation characteristics for five categories of single-crystal single-side polished sapphire wafers used in HB-LED manufacturing as follows:

orgで，そして2006年7月にCD-ROMで入手可能となる。初版は1992年発行，前版は2000年10月発行。

SEMI E29 — Terminology for the Calibration of Mass Flow Controllers and Mass Flow Meters

G01100 - SEMI G11 - Practice for RAM Follower Gel Time and Spiral Flow of Thermal Setting Molding Compounds Revision:SEMI G11-88 - Superseded Current edition approved by theThis method describes a procedure for measuring the flow and gel characteristics of semiconductor grade transfer molding compounds using a ram follower device. Referenced SEMI Standards None.